Pressemitteilung
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Chroma stellt auf der SEMICON China neue Prüfungslösungen vor, um bei IdD-Chips Geschäftschancen wahrzunehmen
2018/03/05

Chroma ATE Inc., ein weltweit führender Anbieter von präzisen Prüf- und Messgeräten und automatisierten, schlüsselfertigen Prüfungslösungen, wird auf der SEMICON China im März ihre neuesten Halbleiter-Prüfungslösungen präsentieren, um bei IdD-Chips und Chips für intelligente Elektrofahrzeuge Marktchancen zu nutzen.

Chroma 3680 ist ein erweitertes, hochpräzises und leistungsstarkes Ladezustand-Testsystem (SoC) mit 2048 E/A-Kanälen für eine Datenrate bis maximal 1 Gbit/s, maximal 512 parallel geschalteten Prüfeinheiten und einer Testdaten-Speichertiefe von 512 MW, um komplexen Testanforderungen hinsichtlich des Ladezustands (SoC) bei niedrigsten Prüfungskosten gerecht zu werden. Das Gerät wird in den Bereichen MCU, digitales Audio, Digital-TV, Set-Top-Box, DSP, Netzwerkprozessor, FPGA (Field Programmable Gate Array) und IC-Unterhaltungselektronik eingesetzt.

HDAVO (High Density Audio Video Option) ist eine Option des 3680 Ladezustand-Testsystems (SoC), die über 8 Module von Arbiträrgeneratoren (AWG) und Digitalisierern (DGT) verfügt. Die Abtastrate beträgt maximal 400 Msps für jeden Arbiträrgenerator (AWG) und 250 Msps für jeden Digitalisierer (DGT). Dank hervorragender Spezifikation, niedrigen Kosten und Multifunktionalität eignet sich das Gerät für ein breites Prüfungsspektrum von gemischten Signalen, z. B. standardmäßiges Basisband, Video, Audio, Grafik, STB and DTV.

Das CRISPro-Softwareset wurde speziell für das 3680-Testsystem entwickelt, sodass Benutzer die Testprogramme schnell und unproblematisch über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) bearbeiten können. Die unterstützte, gleichzeitig laufende Testfunktion verkürzt nicht nur die Prüfungszeit, sondern beschleunigt auch den Durchsatz der Produktionsgeschwindigkeit.

 

Chroma 3680 

Chroma 3680 Erweitertes Ladezustand-Testsystem (SoC)

Die Chroma 33010 PXIe-Digital-E/A-Karte bietet automatische Prüffunktionen auf Basis einer PXIe-Architektur, um den kommenden Anforderungen einer PXI-Prüfung gerecht zu werden. Zur Abdeckung kleinerer IC-Kanäle und immer komplexer werdenden Testfunktionen, insbesondere im Bereich IdD und Automobilelektronik-IC, bietet die PXI/PXIe-Architektur bei Halbleiterprüfungen den speziellen Vorteil von Vielfalt und Flexibilität in den Einsatzbereichen, einschließlich MCU-, MEMS-, RF IC- und PMIC-Prüfung. Das Gerät kann auch eine Portierung zu Chroma 3380D (256 Kanäle), Chroma 3380P (512 Kanäle) und Chroma 3380 (1280 Kanäle) bei der Massenproduktion durchführen, da diese Geräte in Bezug auf Software und Hardware große Kompatibilität zueinander aufweisen.

STE & PXI

Das hauptsächlich zur DC- und RF-Erkennung eines im Karton verpackten optischen Spektrometers (OSA) eingesetzte Chroma 3200L-6 Glasfaser-DC/RF-Testsystem ist mit automatisierten Reinigungs- und Testfunktionen für Glasfaser, visueller Positionierung und automatisiertem Austausch von Glasfaser, visueller Positionierung und Kontaktkontrolle von Sonden ausgestattet. Seine Wiederholbarkeit bei der Sondierung liegt bei maximal ±40 um. Mit Unterstützung einer Einzelstation für technische Versuche und einer gesamten Linie für Massenproduktion erhöht das Testsystem die Umsetzungsflexibilität, verringert deutlich den Aufwand und verursacht weniger Prüfungskosten.

 

Chroma 3200L-6 Glasfaser-DC/RF-Testsystem

Das im MP5800 RF ATE-Prüfgerät integrierte Chroma-Testgerät für Halbleiter kann einen Prüfbereich von 6 GHz abdecken und einen 4/8 RF-Port mit 120-MHz -Bandbreite zur Verfügung stellen. Sein Einsatzbereich umfasst Wi-Fi, BT, GNSS/NB-IdD/LoRa, sonstige IdD-Konnektivität-ICs und RF-Komponenten (PA/LNA/Wandler usw.), um die Anforderungen einer gesamten RF/Digital ATE-Prüfungslösung (CP/FT/SLT) zu erfüllen.

MP 5800RF  

                                                        MP5800 RF ATE-Prüfgerät

Die SEMICON China 2018 findet vom 14. bis 16. März statt, auf der die Chroma ATE Inc. ihre aktuellste Halbleiter-Prüfungslösung im Shanghai New International Expo Center (SNIEC) (Stand-Nr. 3165) vorzeigen wird. Eingeladenen Gästen werden neue Trends in den Bereichen Prüfung und Messung vorgestellt.